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In掺杂浓度对ZnO薄膜结构、光学及电学特性的影响

作者

  • 王冬 重庆师范大学物理与电子工程学院

摘要

借助射频磁控溅射法在石英衬底上制备了In掺杂ZnO薄膜(ZnO:In),研究了In掺杂浓度对薄膜结构、光学及电学性能的影响。结果表明:所有ZnO薄膜均为六方纤锌矿结构,都有较高的光学透过率(高于85%);In掺杂会降低薄膜生长率和结晶质量;随着In掺杂浓度的上升,ZnO薄膜的载流子浓度不断提高,禁带宽度不断增加。

关键词

ZnO:In薄膜;In含量;结晶质量;BM效应

引用本文

王冬. In掺杂浓度对ZnO薄膜结构、光学及电学特性的影响[J]. 冶金与材料, 2019(1): 55+57.

出版日期

2019-02-15

期次

栏目

试验研究

页码

55+57

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