TY  - JOUR
TI  - 铁钢全自动分析系统的分析时长优化改进
AU  - 李若龙
AU  - 姚晴文
AU  - 冷爱芬
JO  - 冶金与材料
PY  - 2025
IS  - 7
SP  - 30
EP  - 32
SN  - 2096-4854
AB  - 文章为了解决铁钢全自动分析系统中铁样拍照合格率低、二次制样后分析时长过长导致系统利用率低的问题，首先通过控制样品加工深度，并逐次使用X射线荧光光谱仪进行分析，可获得同一样品、不同表面质量的分析结果，然后对结果进行分析得到样品表面质量与分析结果之间的关系，再根据分析结果调整设备参数，实现缩短分析时长的目的，从而提高设备的利用率。
KW  - 全自动分析系统
KW  - X射线荧光光谱仪
KW  - 图像处理
KW  - matlab
KW  - 全自动磨样机
UR  - https://journal.zazhitong.com/yjycl/articles/2108474163112837122
ER  -