TY  - JOUR
TI  - XRF压片法分析轻烧镁球中的SiO_2、MgO含量
AU  - 廖子云
JO  - 冶金与材料
PY  - 2020
IS  - 2
SP  - 9
EP  - 10
SN  - 2096-4854
AB  - 文章研究了运用X荧光光谱仪新建曲线,分析粉末压片制样的轻烧镁球中SiO_2、MgO等成分的分析方法,包括样片的制备条件、X荧光光谱仪的参数条件及分析曲线的建立的设置等,并对检测结果进行了精密度、准确度分析,取得了满意的结果。采用X荧光光谱仪方法替代手工方法大大降低了分析的劳动强度,缩短了分析周期,该方法便捷、准确,能够满足快节奏的生产需求。
KW  - 轻烧镁球
KW  - XRF压片法
KW  - X荧光光谱仪
UR  - https://journal.zazhitong.com/yjycl/articles/2108474128488857602
ER  -